LABORATÓRIO MULTI-USUÁRIOS DE ESPECTROSCOPIA DE FOTOELÉTRONS

Espectrômetro de fotoelétrons induzidos por raios-X (XPS) (SPECS): Equipado com dois goniômetros, mocromador curvo de grafite (CuK a = 1,5418 Å), Câmara de Reflexão Especular que permite determinar a espessura (< 300 nm), densidade e rugosidade de filmes finos, e Câmara de Alta Temperatura HTK 10 com detector multicanal (PSD) que permite o monitoramento in situ deO espectrômetro de XPS possibilita, através da medida de deslocamentos químicos (transferência de carga nas ligações heteropolares) dos picos de caroço, determinar o estado de oxidação e a estrutura ao redor de diferentes elementos constituintes do material. A estrutura e a composição do volume (interior do material) pode ser obtida através do corte ou desgaste da amostra in situ. O perfil da composição e da estrutura em função da profundidade, bem como a espessura de camadas entre 0,5 - 4 nm, pode ser determinado através da variação do ângulo de detecção (ARXPS, Angle Resolved XPS ). Além disto, a utilização de um canhão iônico para retirada de camadas consecutivas da superfície do material permite a obtenção de perfis de concentração dos elementos em função da profundidade.




Instituto de Química de Araraquara - Unesp
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