LABORATÓRIO MULTI - USUÁRIOS DE DIFRAÇÃO DE RAIO X
Difratômetro de raios X para policristais, D5000 (SIEMENS):Equipado com dois goniômetros, mocromador curvo de grafite (CuK a = 1,5418 Å), Câmara de Reflexão Especular que permite determinar a espessura (< 300 nm), densidade e rugosidade de filmes finos, e Câmara de Alta Temperatura HTK 10 com detector multicanal (PSD) que permite o monitoramento in situ de transformações de fases em função da temperatura (< 1600°C ).
