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ATENÇÃO: NOVOS PROCEDIMENTOS PARA UTILIZAÇÃO DO MEV-FEG - Nov 2013

Aos interessados em aprender mais sobre microsocpia eletrônica, em Janeiro de 2015 haverá um curso em Araraquara oferecido pela FACTE. Para mais informações clique aqui.

Observações Gerais (LEIA COM ATENÇÃO ANTES DE PROSSEGUIR):


1 - O Microscópio de Varredura de Alta Resolução (FEG-MEV; JEOL modelo 7500F) existente no IQ é um equipamento poderoso na análise de materiais sólidos, mas que possui um elevado custo de manutenção. Desta forma, antes de agendar este equipamento, verifique se no seu caso o MEV convencional não é suficiente para a caracterização que você deseja.

2 - Todos usuários que desejam caracterizar amostras micrométricas devem, obrigatoriamente, utilizar o MEV convencional antes de agendar o FEG. Clique neste link para ir ao sistema de agendamento do MEV convencional.

3 – O FEG-MEV está adequadamente instalado no Laboratório de Microscopia Avançada (LMA) no prédio Multiusuários. O LMA fornece um técnico que realizará a operação do equipamento, mas as análises devem ser acompanhadas pelo usuário/dono da amostra. O técnico está proibido de realizar qualquer tipo de análise sem a presença do usuário.

4 - A procura pela utilização deste microscópio é muito superior à demanda que podemos oferecer. Solicitamos que agende apenas o tempo necessário para as suas análises, evitando que o equipamento fique ocioso.

5 - Atrasos de, no máximo, 15 minutos serão tolerados para cada usuário por período. Em casos de atrasos superiores a este tempo sua seção será cancelada e os custos serão mantidos. Na reincidência de atraso sem justificativa, o usuário será impossibilitado de fazer agendamento no microscópio por 1 mês.

6 - Usuários que tenham amostras que degasam (orgânicos, materiais sensíveis ao feixe, etc) devem preferencialmente utilizar o MEV convencional. Casos excepcionais serão analisados mediante justificativa do usuário da necessidade do uso de um FEG.

7 - A preparação da amostra para análise de FEG-MEV é obrigação do solicitante. Verifique em livros e publicações qual é o melhor método de preparo para observar aquilo que você deseja caracterizar na sua amostra (Ex: superfície polida, de fratura, secção tranversal, etc). Em caso de dúvidas, favor procurar o Prof. Marcelo (DFQ) ou o técnico do MEV, Sra. Sonia .

8 - Todo trabalho (dissertação, tese, trabalho em congresso, artigo de qualquer natureza, etc.) que utilizar as imagens de FEG-MEV obtidas com o equipamento instalado no LMA deverá trazer no seu agradecimento a seguinte frase (ou outra similar): 'Agradecemos ao LMA-IQ pela disponibilidade de utilização do microscópio eletrônico de varredura'. Em inglês, um equivalente seria: 'We would like to thank the LMA-IQ for FEG-SEM facilities.' ou ' FEG-SEM facilities were provided by LMA-IQ.' Solicitamos que enviem cópias dos trabalhos publicados para orlandi@iq.unesp.br para fins estatísticos.

9 - Se desejar informações sobres cursos de Microscopia Eletrônica de Varredura clique aqui.

 

FORMULÁRIO DE AGENDAMENTO ONLINE

REAGENDAMENTO E CANCELAMENTO ONLINE

 

Atualizada em 09/10/2014 às 14:09 - Responsável: Administrador do Site